分析中心成功举办“3D光学轮廓测试及TEM原位技术应用”交流会

为进一步加强对学校科研的支撑作用,中心特邀请Sensofar技术经理、资深工程师黄一波和泽攸应用工程师管翔翔,于3月18日上午分别就光学三维形貌测试和TEM原位技术与应用进行了相关介绍。本次活动由北京仪光科技有限公司销售经理邱方莹和分析中心副主任苗斌主持。

Sensofar技术经理、资深工程师黄一波先是介绍了目前常见的三维形貌测试表征技术及其各自的原理、优势和不足。然后着重介绍了Sensofar旗下S neox型3D光学轮廓仪,并就其白光干涉、激光共聚焦和多焦面叠加等不同模式的原理,详细介绍了其适用的场景及各个模式的优势,举例说明了该设备在表面结构的高度、宽度、粗糙度、角度、体积、曲率等一系列参数的测量和表征的综合能力。

泽攸应用工程师管翔翔介绍了TEM原位样品杆加载力、热、光、电等物理场下实时观测样品微观结构演变过程的应用技术,同时结合实际案例介绍了原位杆MEMS的最新应用。最后就中心现有原位杆在应用过程中出现的问题进行了详细而专业的解答。

 

经与邱经理沟通协商,为校内师生能直观感受Sensofar 三维光学轮廓仪的测试与表征能力,中心争取了3天的免费测样活动。自3月18日下午至3月21日上午,Sensofar工程师为材料、化工、机械、电信和理学院的35位师生测试了150多个样品,并在测试过程中针对不同样品给出了专业、详细的解答与分析。

本次活动是中心对类似设备功能、测试能力及校内使用需求等进行调研的重要环节,也将为后续中心建设发展提供有力的帮助,同时也发挥出中心对于学校分析测试表征的应有职责。