6月10日下午，中心特邀赛默飞世尔科技业务拓展经理孙秀荣，就扫描电镜及自动化、智能化、集成化分析技术在材料科学领域的创新应用进行了专题报告。报告由分析中心副主任苗斌老师主持，吸引了校内相关专业师生及中心相关实验人员的参与。

报告以《赛默飞通用型高分辨扫描电镜Apreo2S在各类材料样品中的应用》为题，从以下三个方面系统阐述了赛默飞扫描电镜（SEM）技术的最新进展及其在材料多维度表征中的创新应用。

1.集成化分析技术：通过能谱分析（EDS）与电子背散射衍射（EBSD）协同，实现材料成分、微观结构与晶体取向的高效联测；

2.SEM-XPS联用方案：结合扫描电镜形貌表征与X射线光电子能谱（XPS）的化学态分析，为材料表面性能研究提供全面数据支撑；

3.智能化突破应用：展示Autoscript自动化功能、Python编程控制电镜、CISA联用解决方案及ChemiSEM智能分析技术如何显著提升检测精度与效率，并通过实际案例凸显其在新能源、半导体等领域的实践价值。

报告结束后，孙秀荣工程师与现场师生就技术细节、应用场景及未来发展趋势展开深入交流，解答了关于自动化工作流程优化、联用技术兼容性等专业问题，现场学术氛围热烈。

本次讲座不仅加深了师生对表征技术的理解，更为校内外科研合作搭建了技术交流平台，助力材料科学研究向智能化、高效化方向迈进。