easyXAFS300 台式X射线吸收精细结构谱仪
时间:2024-12-17 来源: 作者: 访问量:
1.设备简介:
easy XAFS300采用独有的x射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现x射线吸收精细结构测量和分析。设备具有极高的灵敏度和光质量,广泛应用在催化、电池、能源、地质、材料、陶瓷等研究领域,实现对元素价态和配位结构解析。
2.设备规格
采用Mo靶/Ag靶X射线管,最大功率可达1200W ;目前测试能量范围为5~12keV;分辨率;0.5-1.5eV(7~9KeV),无需单色仪校准;光通量>1000000c/s。
3.功能介绍:
1)价态分析:通过对XANES数据进行处理,可分析材料体相元素价态,探究目标元素价态变化对材料性能的影响;
2)配位结构分析:通过对EXAFS数据处理,可得到目标元素原子周围配位信息,包括目标元素原子周围的配位数、键长、配位环境等参数,探究目标原子周围环境对材料性能的影响。
3)催化剂表征:可定制原位催化反应池并与设备集成,用于原位XAFS催化分析。
4.样品要求
可测粉末、电池极片及薄膜类片状样品,片状类样品直径大于8.5mm。
目前可测元素:Pt、Ni、Co、Ti、V、Mn、Fe、Zn、Cu、Cr、Se。
5.联系方式:
设备存放地点:机材楼C105
联系人:赵丹丹
电话:15097681151
邮箱:zdd15097681151@163.com