1.设备简介

  JEM 2100F 是一款先进的透射电子显微镜，在同类显微镜中，它的分析功能最强、获得的图像质量最高。束斑尺寸在0.5nm以下，可以快速地获得超高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便。

2.设备功能

  基础研究、显微形貌观察、固体物质微结构研究、高分辨显微术、晶体结构及晶体缺陷分析、物质微区元素成分测定。

3.主要技术参数

 （1）分辨率：点分辨率0.19nm，线分辨率0.10nm

 （2）加速电压：200kV

 （3）电子枪类型：肖特基场发射电子枪

 （4）束流：1.0nm束斑电流达到0.5nA；2.5nm束斑电流达到3.0nA

 （5）放大倍数：最小50倍；最大 1,500,000倍

 （6）样品台：5轴样品台

 （7）样品杆：单倾样品杆，和低背景双倾样品杆

4.附件

（1）一体化扫描透射(STEM)系统

       分辨率：0.2 nm （明场像线分辨率）   

       探头：高角环形暗场探头（HAADF）和明场探头  

       TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间小于30秒   

       STEM放大倍数范围150x - 230Mx   

（2）牛津公司电制冷能谱仪系统（X-Max80T）

       电制冷能谱探测器分辨率(Mn K线)：优于127eV(STD)

（3）Gatan公司一体化CMOS相机及成像系统（OneView）

（4）Hysitron PI95

（5）Gatan公司EELS

5.联系方式

设备存放地点：机材楼C101  

联系人：权力伟

电话：18233553448

邮箱：quanlw@hebut.edu.cn